Сведения о контракте
| Номер контракта: | 1773411103518000185 |
| Сумма контракта: | 240 000.00 RUB |
| Регион: | Москва |
| Способ размещения заказа: | Электронный аукцион |
| Дата проведения аукциона: | 2018-09-12 |
| Дата заключения контракта: | 2018-09-25 |
| Дата публикации: | 2018-09-26 |
| Срок исполнения контракта: | 2019-05-29 |
| Федеральный закон: | 44-ФЗ |
| Ссылка на zakupki.gov.ru: | |
| Ссылка на .json файл контракта: | Перейти |
| Количество поставщиков: | 1 Показать |
Заказчик
| Наименование заказчика: | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР "КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ" |
| ИНН / КПП : | 7734111035 / 773401001 |
| Кол-во контрактов (94/44-ФЗ): | 12649 |
| Кол-во контрактов (223-ФЗ): | 2998 |
| Сумма контрактов (94/44-ФЗ): | 303 490 792 481 RUB |
| Сумма контрактов (223-ФЗ): | 55 380 273 154 RUB |
Не нашли, что искали? Нашли ошибку или персональные данные?
Свяжитесь с нами через форму "Напишите нам" (Справа на экране).
Свяжитесь с нами через форму "Напишите нам" (Справа на экране).
Предметы контракта:
|
#
|
Наименование товара, работ, услуг
|
Код продукции
|
Единицы измерения
|
Цена за единицу
|
Количество
|
Сумма,
руб
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
1
|
Поверка, В составе станции пробоподготовки для ПЭМ и экспресс-анализа материалов Helios Nanolab 650, приставки для рентгеновской энергодисперсионной спектроскопии (EDXS) XMX1013, сер. № 65066-Х080
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
2
|
Поверка, Микроскопа трансмиссионно-сканирующего электронного Titan 80-300 c системой микроанализа и корректором сферических аберраций, сер. № D3151
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
3
|
Поверка, В составе микроскопа автоэмиссионного сканирующего электронного для исследования радиоактивных материалов Merlin, Carl Zeiss, волнового дисперсионного спектрометра Inca Wave 700 (5 дифракционных кристаллов), сер. № 65164R131103F сер. № 67593
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
4
|
Поверка, Станции пробоподготовки для ПЭМ и экспресс-анализа материалов Helios Nanolab 650 высокопроизводительной двухлучевой рабочей, сер. № D-9960
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
5
|
Поверка, Спектрофотометра Lambda 750, зав. № 162
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
6
|
Поверка, В составе микроскопа трансмиссионно- сканирующего электронного Titan 80-300, приставки для рентгеновской энергодисперсионной спектроскопии (EDXS) Retractable EDS Detector 300 kV(S-)TWIN TITAN 300ST 136 5, сер. № 12220-61850-ME
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
7
|
Поверка, Микроскопа автоэмиссионного сканирующего электронного для исследования радиоактивных материалов Merlin, Carl Zeiss, сер. № 4275
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
|
8
|
Поверка, В составе микроскопа автоэмиссионного сканирующего электронного для исследования радиоактивных материалов Merlin, Carl Zeiss, волнового дисперсионного спектрометра Inca Wave 700 (5 дифракционных кристаллов), сер. № 65164R131103F
|
71.12.40.129
|
усл. ед
|
30 000.00
|
1.0
|
30 000.00
|
Информация о поставщике:
|
#
|
Наименование
|
Адрес:
|
ИНН
|
КПП
|
|---|---|---|---|---|
|
1
|
7728309630
|
772801001
|
Комментарии: